Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) - электронно-оптический метод наблюдения, позволяеющий исследовать изображение поверхности образца. СЭМ применяется для анализа широкого спектра веществ в фармацевтике, биологии, электронике, медицине, материаловедение и др.