Техническая и методическая поддержка
Научно-технические консультации
Поставка, установка, инжиниринг

+7 (495) 256-24-84 info@lab-test.ru

Ближнепольная спектроскопия

Традиционно, для определения свойств объектов размером в нанометры применяются:

  • Электронные микроскопы;
  • рентгеновские микроанализаторы элементного состава;
  • картирование с помощью сканирующего зондового микроскопа.

Эти аналитические приборы обеспечивают получение изображения с высоким пространственным разрешением, но они не могут предоставить информацию о химическом строении поверхности образца.

С другой стороны, микроскопы-спектрометры ИК-Фурье, комбинационного рассеяния, фотолюминесценции и ряда других методов измерения позволяют получить информацию о химических веществах на поверхности, однако наименьший размер изучаемых объектов измеряется микронами. Размер ограничен дифракционным пределом света, определяемым длиной волны измеряемого излучения. Сканирующий оптический наноспектрометр ближнего поля позволил преодолеть дифракционный предел и предоставил возможность изучать нанообъекты.

Компания JASCO усовершенствовала серию сканирующих оптических микроскопов-спектрометров ближнего поля (NFS), создав новую платформу для исследований в области нанотехнологий. Сканирующий оптический наноспектрометр ближнего поля позволил преодолеть дифракционный предел и предоставил возможность изучать нанообъекты. Излучение источника, введенное в полый волоконный зонд с отверстием диаметром от ста до нескольких сотен нанометров производит свет в «ближнем поле», сопоставимым с апертурой выходного отверстия, улучшая пространственное разрешение с тысяч до десятков нанометров.