Genius IF

Genius IF
Артикул: 86600000Производитель: Xenemetrix LTD
Описание Модели Спецификация Применения
XRF спектрометр Xenemetrix Genius IF производит неразрушающий качественный и количественный анализ от Углерода (6) до Фермия (100), обеспечивая пределы обнаружения от долей ppm до высоких процентных содержаний.
Спектрометр удобно размещается на стандартном лабораторном столе или благодаря укрепленному дизайну (опционально) – в мобильной лаборатории.
Соответствует стандартам MIL 810E (устойчивости оборудования ко всевозможным стрессам в полевых условиях).
Кремниевый дрейфовый детектор(SDD): обеспечивает возможность анализа с высокой скоростью счета импульсов, улучшенным разрешением – ниже 125 эВ, и быстрым откликом для минимизации времени анализа.
Кремниевый дрейфовый детектор для анализа легких элементов (SDD LE): Ультратонкое окно детектора обеспечивает превосходные характеристики для анализа элементов с малым атомным номером.
Вторичные мишени: Genius IF имеет уникальную запатентованную геометрию, сочетающую восемь вторичных мишеней и восемь настраиваемых фильтров, используемых в режиме прямого возбуждения, для оптимального возбуждения всех элементов, которые могут быть обнаружены с помощью EDXRF спектрометра. Рентгеновская трубка возбуждает характеристические K-линии вторичных мишеней (чистого металла), которые используются для возбуждения образца «монохроматически». Широкоугольная геометрия и вторичные мишени обеспечивают отличные результаты при анализе макро, микро и следовых элементов. При использовании вторичных мишеней, пределы обнаружения некоторых элементов могут быть значительно снижены. В результате снижения пределов обнаружения, Genius IF подходит для более широкого ряда целей, которые ранее были не доступны для EDXRF инструментов, и является наиболее универсальным элементным анализатором.
На Genius IF можно также проводить анализ в классическом режиме прямого возбуждения.
Genius IF включает в себя следующие эффективные компоненты:
- Полностью интегрированный компьютер
- Кремниевый дрейфовый детектор высокого разрешения
- Мощная рентгеновская трубка с изменяемым размером пятна, разработанная для адаптации к образцам разных размеров
Восемь вторичных мишеней и восемь настраиваемых фильтров для быстрого и точного определения микроэлементов
Основные области применения:
- Полимеры: анализ сырья для производства пластмасс, PVC, добавки, следы
- Добыча и производство минерального сырья: цемент, известняк, песок, глина, бокситы, фосфориты, гипс
- Переработка нефти: Контроль содержания серы серы в топливе, мониторинг смазочных масел, присадок, продуктов, износа металлических деталей
- Металлургия: исследования и контроль качества различных технологических процессов в металлургической промышленности при производстве нержавеющей стали, чугуна, сортировке металлов
- Защита окружающей среды: сточные воды, соответствие директиве RoHS, загрязнение атмосферы, почва и грунт
- Толщина покрытий и тонкие плёнки: анализ многослойных покрытий, покрытий для стали, примесей
- Криминалистика: анализ улик, совпадение материалов, взрывчатые вещества
- Продукты питания, парфюмерия и лекарственные препараты: проверка добавок, сырья, качества упаковки и прочее
- Научные исследования: исследования в области материаловедения, химической промышленности и др.
Выберите модель, чтобы посмотреть ее особенности и комплектацию:

Характеристики | SDD Версия | SDD LE Версия |
Возможности анализа | ||
Диапазон определения | F(9) - Fm(100) | C(6) - Fm(100) |
Определяемые концентрации | Доли ppm - 100% | |
Генерация рентгеновского излучения | ||
Рентгеновская трубка | Rh/Ag/Mo/W/Pd анод | |
Источник излучения | 50кВ, 50Вт | |
| Прямое возбуждение с тремя программно-заменяемыми фильтрами | |
Стабильность | Точность 0.1% при температуре окружающей среды | |
Детектирование рентгеновского излучения | ||
Детектор | SDD | SDD LE |
Разрешение (FWHM), при 5.9 kэВ | 125эВ ± 5эВ | |
Окно детектора | Be | Тонкое окно для анализа легких элементов |
Основные особенности системы | ||
Автосэмплер | 8/16 позиций | |
Рабочая среда | Воздух/ Разрежение/ Гелий | |
Фильтры | 8 (с возможностью установки необходимых фильтров) | |
Источник электропитания | 110-230В 50/60Гц | |
Обработка сигнала | Высокоскоростной цифровой мультиканальный анализатор | |
Габариты системы (L x W x H, cм) | Без упаковки: 55 x 55 x 32, С упаковкой: 80 x 80 x 65 | |
Вес | 50кг (net), 90кг (gross) | |
Размер камеры | 22 x 22cм, H=5cм | |
Компьютер | Встроенный ПК | |
Программное обеспечение | ||
Системное программное обеспечение | Програмное обеспечение nEXt™ , под управлением ОС Microsoft Windows™ + базовый бесстандартный режим фундаментальных параметров | |
Управление | Автоматический контроль возбуждения, обнаружения и обработка сигнала | |
Обработка спектров | Автоматическое удаление пика утечки и фона. Автоматическая деконволюция пиков. Графической обработки статистических данных | |
Алгоритмы количественного анализа | Мультиэлементная регрессия с межэлементной коррекцией (6 моделей) Различные методы вычисления площади пика : gross, net, fit и digital filter | |
Формирование отчета | Настраиваемый пользователем вывод данных на принтер | |
Easy nEXt | Упрощенное програмное обеспечение для работы в режиме «Pass/Fail» | |
Дополнительные опции | Автосэмплер на 16 позиций. Устройство для вращения образцов. Програмное расширение для анализа методом фундаментальных параметров. Укрепленный корпус. Оптимизированный для анализа легких элементов детектор. |
- Металлургия
- Черная металлургия
- Технологические материалы
- Цемент
