XRF спектрометр Xenemetrix Genius IF производит неразрушающий качественный и количественный анализ от Углерода (6) до Фермия (100), обеспечивая пределы обнаружения от долей ppm до высоких процентных содержаний.

Спектрометр удобно размещается на стандартном лабораторном столе или благодаря укрепленному дизайну (опционально) – в мобильной лаборатории.

Соответствует стандартам MIL 810E (устойчивости оборудования ко всевозможным стрессам в полевых условиях).

Кремниевый дрейфовый детектор(SDD): обеспечивает возможность анализа с высокой скоростью счета импульсов, улучшенным разрешением – ниже 125 эВ, и быстрым откликом для минимизации времени анализа.

Кремниевый дрейфовый детектор для анализа легких элементов (SDD LE): Ультратонкое окно детектора обеспечивает превосходные характеристики для анализа элементов с малым атомным номером.

Вторичные мишени: Genius IF имеет уникальную запатентованную геометрию, сочетающую восемь вторичных мишеней и восемь настраиваемых фильтров, используемых в режиме прямого возбуждения, для оптимального возбуждения всех элементов, которые могут быть обнаружены с помощью EDXRF спектрометра. Рентгеновская трубка возбуждает характеристические K-линии вторичных мишеней (чистого металла), которые используются для возбуждения образца «монохроматически». Широкоугольная геометрия и вторичные мишени обеспечивают отличные результаты при анализе макро, микро и следовых элементов. При использовании вторичных мишеней, пределы обнаружения некоторых элементов могут быть значительно снижены. В результате снижения пределов обнаружения, Genius IF подходит для более широкого ряда целей, которые ранее были не доступны для EDXRF инструментов, и является наиболее универсальным элементным анализатором.

На Genius IF можно также проводить анализ в классическом режиме прямого возбуждения.

Genius IF включает в себя следующие эффективные компоненты:

• Полностью интегрированный компьютер
• Кремниевый дрейфовый детектор высокого разрешения
• Мощная рентгеновская трубка с изменяемым размером пятна, разработанная для адаптации к образцам разных размеров

Восемь вторичных мишеней и восемь настраиваемых фильтров для быстрого и точного определения микроэлементов

Основные области применения:

• Полимеры: анализ сырья для производства пластмасс, PVC, добавки, следы
• Добыча и производство минерального сырья: цемент, известняк, песок, глина, бокситы, фосфориты, гипс
• Переработка нефти: Контроль содержания серы серы в топливе, мониторинг смазочных масел, присадок, продуктов, износа металлических деталей
• Металлургия: исследования и контроль качества различных технологических процессов в металлургической промышленности при производстве нержавеющей стали, чугуна, сортировке металлов
• Защита окружающей среды: сточные воды, соответствие директиве RoHS, загрязнение атмосферы, почва и грунт
• Толщина покрытий и тонкие плёнки: анализ многослойных покрытий, покрытий для стали, примесей
• Криминалистика: анализ улик, совпадение материалов, взрывчатые вещества
• Продукты питания, парфюмерия и лекарственные препараты: проверка добавок, сырья, качества упаковки и прочее
• Научные исследования: исследования в области материаловедения, химической промышленности и др.