Vega

Vega
Артикул: 181600000Производитель: Xenemetrix LTD
Описание Модели Спецификация
Универсальные лабораторные спектрометры с возможностью анализа твердых веществ, порошков, прессованные форм, жидкостей и материалов воздушных фильтров. Аналитическая камера позволяет одновременно размещать пробы различных форм и размеров.
Восемь вторичных мишеней, подбираемых под конкретные задачи, обеспечивают максимальную чувствительность, скорость и точность количественного анализа даже в сложных матрицах, таких, как сплавы, полимеры и геологические пробы. Подбор мишеней позволяет достичь пределов обнаружения на уровне долей ppm для широкого диапазона элементов.
Используется кремниевый дрейфовый детектор с окном из тонкой полимерной пленки (SDD LE), улучшающим характеристики анализа легких элементов. Пониженный шум, высокой эффективностью и улучшенное энергетическое разрешение детектора также повышает качество и скорость анализа.
Целостная конструкция 10-местного автоматического автосэмплера рассчитана на работу в автоматическом режиме и минимизацию участия оператора.
Основные области применения:
- Полимеры: анализ сырья для производства пластмасс, PVC, добавки, следовые элементы
- Добыча и производство минерального сырья: цемент, известняк, песок, глина, бокситы, фосфориты, гипс
- Переработка нефти: Контроль содержания серы в топливе, нефтепродукты, присадки, смазочные масела, мониторинг износа металлических деталей
- Металлургия: исследования и контроль качества различных технологических процессов металлургической промышленности при производстве нержавеющей стали, чугуна, сортировке металлов
- Защита окружающей среды: сточные воды, соответствие директиве RoHS, загрязнение атмосферы, почва и грунт
- Толщина покрытий и тонкие плёнки: анализ многослойных покрытий, покрытий для стали, примесей в покрытиях
- Криминалистика: анализ улик, совпадение материалов, взрывчатые вещества
- Продукты питания, парфюмерия и лекарственные препараты: проверка сырья, добавок, качества упаковки и др.
- Научные исследования: исследования в области материаловедения, химической промышленности и др.
Выберите модель, чтобы посмотреть ее особенности и комплектацию:

Характеристики | Nova | Vega |
Возможности анализа | ||
Диапазон определения | C(6) - Fm (100)/F(9) – Fm(100) | C(6) - Fm(100) |
Определяемые концентрации | ppm - 100% | ppb - 100% |
Генерация рентгеновского излучения | ||
Источник излучения | 60кВ, 300Вт | 60кВ, 400Вт |
Рентгеновская трубка | Rh/Ag/Mo/W/Cr/Pd анод | |
Способ возбуждения | Прямое возбуждение с фильтрами и через вторичные мишени | |
Стабильность | Точность 0.1% при температуре окружающей среды | |
Детектирование рентгеновского излучения | ||
Детектор | SDD или SDD LE | |
Разрешение (FWHM), при 5.9 кэВ | 125эВ ± 5эВ | |
Окно детектора | Be/Тонкое полимерное окно для анализа лёгких элементов | |
Основные особенности системы | ||
Автосэмплер | 10-позиционный автосэмплер | |
Рабочая среда | Воздух/ Вакуум/ Гелий | |
Фильтры | 8 фильтров | |
8 вторичных мишеней: Si, Ti, Fe, Gd, Ge, Zr, Mo, Sn или по заказу | ||
Источник электропитания | 110-230В 50/60Гц | |
Обработка сигнала | Высокоскоростной многоканальный цифровой анализатор | |
Габариты системы (L x W x H, cм) | Без упаковки: 85 x 85 x 105, в упаковке: 145 x 95 x 135 | |
Вес | 170кг (net), 220кг (gross) | |
Размер камеры | 28x28 см, H=6см | |
Компьютер | Встроенный ПК | |
Программное обеспечение | ||
Системное программное обеспечение | Програмное обеспечение nEXt™ , под управлением ОС Microsoft Windows™ + базовый бесстандартный режим фундаментальных параметров | |
Управление | Автоматический контроль возбуждения, обнаружения и обработка сигнала | |
Обработка спектров | Автоматическое удаление пика утечки и фона. Автоматическая деконволюция пиков. Графической обработки статистических данных | |
Алгоритмы количественного анализа | Мультиэлементная регрессия с межэлементной коррекцией (6 моделей) Различные методы вычисления площади пика : gross, net, fit и digital filter | |
Формирование отчета | Настраиваемый пользователем вывод данных на принтер | |
Дополнительные опции | Автосэмплер на 10 позиций. Устройство для вращения образцов. Программное расширение для анализа методом фундаментальных параметров. Упрочненный корпус и защита от вибраций. |
