Ближнепольная спектроскопия

NFS-210/310 Наноспектрометр ближнего поля

Наноспектрометры NFS-210/310 представляют собой систему микроскопии ближнего поля, которая включает в себя механизм обратной связи, управляющий расстоянием между зондом ближнего поля и поверхностью образца, а также микроскоп для наблюдения за образцом и зондом.

NFS-220/320 Наноспектрометр с дополнительной оптикой

Наноспектрометры NFS-220/320 сочетают в себе точность ближнепольных микроскопов системы NFS с дополнительной оптикой возбуждения,которая облучает образцы светом ближнего поля, испускаемого зондом.

NFS-220FT/320FT Наноспектрометр с ИК-Фурье спектрометром

Наноспектрометры NFS-220FT/320FT сочетают в себе точность ближнепольных микроскопов системы NFS и ИК-Фурье спектрометр для ближней ИК области спектра. Размер области света, выходящего из зонда, зависит только от размера диафрагмы, а не от длины волны.

NFS-230/330 Наноспектрометр со спектрофлуориметром

Наноспектрометры NFS-230/330 сочетают ближнепольную систему высокого разрешения со спектрофлуориметром.

Традиционно, для определения свойств объектов размером в нанометры применяются:

• Электронные микроскопы;
• рентгеновские микроанализаторы элементного состава;
• картирование с помощью сканирующего зондового микроскопа.

Эти аналитические приборы обеспечивают получение изображения с высоким пространственным разрешением, но они не могут предоставить информацию о химическом строении поверхности образца.

С другой стороны, микроскопы-спектрометры ИК-Фурье, комбинационного рассеяния, фотолюминесценции и ряда других методов измерения позволяют получить информацию о химических веществах на поверхности, однако наименьший размер изучаемых объектов измеряется микронами. Размер ограничен дифракционным пределом света, определяемым длиной волны измеряемого излучения. Сканирующий оптический наноспектрометр ближнего поля позволил преодолеть дифракционный предел и предоставил возможность изучать нанообъекты.

Компания JASCO усовершенствовала серию сканирующих оптических микроскопов-спектрометров ближнего поля (NFS), создав новую платформу для исследований в области нанотехнологий. Сканирующий оптический наноспектрометр ближнего поля позволил преодолеть дифракционный предел и предоставил возможность изучать нанообъекты. Излучение источника, введенное в полый волоконный зонд с отверстием диаметром от ста до нескольких сотен нанометров производит свет в «ближнем поле», сопоставимым с апертурой выходного отверстия, улучшая пространственное разрешение с тысяч до десятков нанометров.