NRS-4500 КР-спектрометр

Традиционно считается, что в рамановской спектроскопии подготовка образца значительно проще, чем в ИК-спектроскопии. Более того, в отличие от ИК-Фурье микроскопии Раман-микроскопы предлагают более высокое пространственное разрешение. Как результат, спектрометрия комбинационного рассеяния быстро развивается и становится одним из ведущих методов анализа материалов. При разработке спектрометра NRS-4500 компания JASCO учла тот факт, что для работы на рамановском спектрометре оператору необходимо обладать продвинутыми навыками проведения регулярных юстировок, что затрудняет использование данного метода.

Лазерный Раман спектрометр NRS-4500 призван кардинально изменить подход, используемый при решении большинства задач КР-спектроскопии. С данным прибором Раман-спектроскопия становится доступной не только узкому кругу специалистов, но и тем, кто только начал использовать метод комбинационного рассеяния.

Лазерная безопасность

Камера образца полностью отвечает классу 1 по лазерной безопасности и имеет интегрированную систему защиты. 

Жесткая оптическая скамья

Конструкция микроскопа предельно жесткая, что обеспечивает отсутствие каких-либо нежелательных смещений лазера. Данное условие часто не соблюдяется в системах, построенных вокруг обычного оптического микроскопа. Прибор NRS-4500 позволяет наблюдать лазерное пятно для точного позиционирования образца с пространственным разрешением по X/Y 1 мкм (Z=1.5 мкм). Переключение между режимами наблюдения и измерения полностью автоматическое, проводиться при закрытой дверце камеры образца для обеспечения безопасности.

Стандартная конфигурация с лазером 532 или 785 нм

Спектрометр NRS-4500 в стандартной конфигурации включает лазер с длиной волны 532 или 785 нм с полосно-заграждающим или щелевым фильтром. Также предусмотрена возможность установки дополнительных лазеров (до 3-х  одновременно). Выбор и смена лазеров производится автоматически в программном обеспечении, сразу после выбора лазера вся оптическая система автоматически юстируется для оптимизации разрешения и пропускной способности. Может быть установлено до четырех дифракционных решеток с автоматическим переключением, которые позволяют регулировать спектральный диапазон и разрешение в диапазоне от 8000 до 100 см^-1  (с опциональным расширением от 8000 - 50 см^-1). Прибор обеспечивает воспроизводимость ±0.2 см^-1.

Новый 457 нм лазер для снижения влияния флуоресценции и запатентованный алгоритм удаления влияния флуоресценции

Компания JASCO разработала и запатентовала новый способ подавления влияния флуоресценции на Раман-спектр. Как и в других Рамановских системах, в приборе могут использоваться лазеры с длинами волн в диапазоне 785-1064 нм. Однако в модели NRS-4500 предлагается использоваnm лазер 457 нм, обеспечивающий более интенсивный сигнал, высокое пространственное разрешение и существенно более низкую флуоресценцию для огромного количества образцов разных типов. Кроме выбора типа лазера JASCO предлагает и другой путь минимизации влияния флуоресценции. Мощный математический алгоритм, включенный в программное обеспечение Spectra Manager II, позволяет эффективно удалять или минимизировать сигнал флуоресценции со спектра комбинационного рассеяния вне зависимости от длины волны лазера.

Расширенный Функционал измерений
Широкий выбор объективов обеспечивает возможность проведения как микро- так и макроспектральных измерений. Имеются также объективы для работы с образцами на большом расстоянии для нагреваемых столиков и других приставок. Прибор NRS-4500 может поставляться с различными столиками для образца: с ручным управлением, автоматический столик с компьютерным управлением, автоматический XYZ-картирующий столик. Также опционально доступен столик с рабочим расстоянием 80 мм для больших образцов и возможности нагревания или охлаждения образца.

Мощная система ‘UserAssist’ для начинающих пользователей

Программный модуль ‘UserAssist’ помогает пользователю настроить NRS-4500 для измерения спектров образца; простая последовательность действий проведет пользователя через настройку и оптимизацию параметров измерения с необходимыми советами и подсказками. Программа предупредит, например, если пользователь установил слишком высокую интенсивность лазера. Когда все параметры установлены, NRS-4500 автоматически подключит нужный лазер,  необходимые для измерения фильтры и решетки, сфокусируется на образце и проведет измерение спектра.

 

• Выбор области образца, который необходимо измерить

• Выбор лазера и фильтра

• Установка интенсивности лазера

• Выбер дифракционноц решетки

• Установка длины волны

 

Функция "Простой поиск" (Simple Search)

Новая функция программного обеспечения ‘Simple Search’ используется вместе с автоматизированным XYZ столиком. Встроенный алгоритм, разработанный JASCO, анализирует изображение образца и автоматически выбирает позицию для микроскопа исходя из размера, контраста и/или цвета исследуемого материала. Пользователю остается только нажать кнопку для получения спектра интересующих его частей образца.

Коррекция флуоресценции

Прибор NRS-4500 обладает двумя физическими методами удаления флуоресценции:

1) Определенный размер конфокальной апертуры для ограничения матрицы измерений, проводящихся для данного образца

2) Возможность выбора такой длины волны, при которой флуоресценция образца минимальна.

Также возможно воспользоваться запатентованным компанией Jasco алгоритмом для коррекции флуоресценции. Данный способ высокоэффективен при удалении флуоресценции после измерения образца.

Идентификация веществ и база данных функциональных групп

Для обеспечения более быстрой обработки спектров программное обеспечение включает в себя Sadtler KnowItAll - модуль ПО, включающий базу данных Рамановских спектров возможных функциональных групп и другую важную информацию о химических соединениях, основанную на вычислении высоты и площади пиков. Также пользвоатель сможет добавить свои соединения в базу данных после вычисления площади и высоты пика.  База данных включает в себя информацию о вычислениях по спектру и "метку", описывающую относящийся к пику колебательный переход. Карты химического состава могут быть легко построены на основании информации, полученной при сканировании образца непосредственно в программе обработки спектров.