Настольный энергодисперсионный XRF спектрометр Xenemetrix Genius IF с вторичными мишенями

Энергодисперсионный XRF спектрометр Xenemetrix Genius IF с вторичными мишенями является экономически эффективным решением на рынке спектрометров для элементного анализа.

Анализатор производит неразрушающий качественный и количественный анализ от Углерода (6) до Фермия (100), обеспечивая пределы обнаружения от долей ppm до высоких процентных содержаний.

Genius IF имеет уникальную запатентованную широкоугольную геометрию, сочетающую восемь вторичных мишеней и восемь настраиваемых фильтров для оптимального возбуждения всех элементов, которые могут быть обнаружены с помощью энергодисперсионного XRF спектрометра.

При использовании вторичных мишеней, рентгеновская трубка возбуждает характеристические K-линии вторичных мишеней (чистого металла), которые используются для возбуждения образца «монохроматически». Это позволяет значительно снизить пределы обнаружения некоторых элементов. Также возможен анализ в классическом режиме прямого возбуждения.

Сравнение режима работы прибора с использованием вторичных мишеней и стандартного режима прямого возбуждения:

На изображении видно значительное улучшение соотношения сигнала пикак и фона при использовании возбуждения

с помощью вторичных мишеней (на рис. черный контур) по сравнению с использованием режима

прямого возбуждения (на рис. основной красный спектр).

Кремниевый дрейфовый детектор (SDD) обеспечивает возможность анализа с высокой скоростью счета импульсов, улучшенным разрешением до 125 эВ и быстрым откликом для минимизации времени анализа.

Тонкое окно модификации кремниевого дрейфового детектора для анализа легких элементов (SDD LE) обеспечивает превосходные характеристики для анализа элементов с малым атомным номером.

Спектрометр удобно размещается на стандартном лабораторном столе или благодаря укрепленному дизайну (опционально) – в мобильной лаборатории.

Характеристики	SDD Версия	SDD LE Версия
Возможности анализа
Диапазон определения	F(9) - Fm(100)	C(6) - Fm(100)
Определяемые концентрации	Доли ppm - 100%
Генерация рентгеновского излучения
Рентгеновская трубка	Rh/Ag/Mo/W/Pd анод
Источник излучения	50кВ, 50Вт
	Прямое возбуждение с тремя программно-заменяемыми фильтрами
Стабильность	Точность 0.1% при температуре окружающей среды
Детектирование рентгеновского излучения
Детектор	SDD	SDD LE
Разрешение (FWHM), при 5.9 kэВ	125эВ ± 5эВ
Окно детектора	Be	Тонкое окно для анализа легких элементов
Основные особенности системы
Автосэмплер	8/16 позиций
Рабочая среда	Воздух/ Разрежение/ Гелий
Фильтры	8 (с возможностью установки необходимых фильтров)
Источник электропитания	110-230В 50/60Гц
Обработка сигнала	Высокоскоростной цифровой мультиканальный анализатор
Габариты системы (L x W x H, cм)	Без упаковки: 55 x 55 x 32, С упаковкой: 80 x 80 x 65
Вес	50кг (net), 90кг (gross)
Размер камеры	22 x 22cм, H=5cм
Компьютер	Встроенный ПК
Программное обеспечение
Системное программное о беспечение	Програмное обеспечение nEXt™ , под управлением ОС Microsoft Windows™ + базовый бесстандартный режим фундаментальных параметров
Управление	Автоматический контроль возбуждения, обнаружения и обработка сигнала
Обработка спектров	Автоматическое удаление пика утечки и фона. Автоматическая деконволюция пиков. Графической обработки статистических данных
Алгоритмы количественного а нализа	Мультиэлементная регрессия с межэлементной коррекцией (6 моделей) Различные методы вычисления площади пика : gross, net, fit и digital filter
Формирование отчета	Настраиваемый пользователем вывод данных на принтер
Easy nEXt	Упрощенное програмное обеспечение для работы в режиме «Pass/Fail»
Дополнительные опции	Автосэмплер на 16 позиций. Устройство для вращения образцов. Програмное расширение для анализа методом фундаментальных параметров. Укрепленный корпус. Оптимизированный для анализа легких элементов детектор.