XRD. Рентгеновские дифрактометры

XRD (англ. X-Ray Diffraction, рус. рентгенофазовый анализ) — метод неразрушающего контроля, предназначенный для идентификации и количественного определения кристаллических фаз в порошковых и твердых образцах, изучения структуры и размера кристаллитов, качества, однородности твердых материалов и тонких пленок.

Приборы для выполнения дифрактометрических исследований — дифрактометры — приборы для одновременной регистрации интенсивности и направления дифрагированных лучей. Рентгеновский дифрактометр состоит из источника рентгеновского излучения, рентгеновского гониометра, в который помещают исследуемый образец, детектора излучения и электронного измерительно-регистрирующего устройства.

Детектором излучения служит счётчик квантов (ионизационная камера, пропорциональные счётчики и сцинтиляционные счётчики). На счётчик выводится последовательно каждый дифракционный луч, что достигается перемещением счётчика в процессе измерения.

Рентгеновский дифрактометр позволяет измерять интенсивности дифрагированного в заданном направлении рентгеновского излучения и углы дифракции.