NFS-210/310 Наноспектрометр ближнего поля

Компания Jasco в своих сканирующих оптических наноспектрометрах ближнего поля  предоставила возможность преодолеть дифракционный предел и изучать нанообъекты.

В данной системе не установлены источники возбуждения или детекторы, несмотря на это можно создавать различные экспериментальные установки, используя окна на передней и правой стенках прибора. Более того, прямой доступ к вводу оптического волокна в ближнепольный зонд обеспечивает большую гибкость при проведении экспериментов с использованием системы микроскопии ближнего поля.

Расположение образца контролируется с высочайшей точностью, поэтому наконечник зонда остается на фиксированном расстоянии от поверхности образца, что обеспечивает точные топологические данные о рельефе поверхности образца. Облучая образец с помощью источника "ближнего поля", создаваемого диафрагмой зонда, можно получать оптические изображения с пространственным разрешением от 50 нм, преодолевая "дифракционный предел".

Зонд ближнего поля.

Программный модуль "Image Manager":
Модуль управления изображением позволяет получить трехмерную картину высокого разрешения, включая и топологию поверхности образца.
При отображении интенсивности и площали сигналов пиков/распределения, а также значения полуширины, программный модуль позволяет получить удивительно реалистичные 3D изображения.

Карта распределения интенсивностей нанотрубок.

Кроме того, становится возможным эффективно извлекать необходимую информацию с помощью различных функций обработки изображений и инструментов анализа больших объемов экспериментальных данных.

 Серия NFS-210/310 включает в себя 2 модели:

NFS-210 - сканирующий оптический наноспектрометр ближнего поля для проведения экспериментов при комнатной температуре.

NFS-310 - сканирующий оптический наноспектрометр ближнего поля с криостатом для проведения низкотемпературных экспериментов. Поток газообразного гелия обеспечивает охлаждение образца до 10K и ниже.

Особенности:
•    Встроенный микроскоп ближнего поля с высокой механической стабильностью.
•    Подсветка образца и доступ для измерения с двух сторон (спереди и справа).
•    Прямой доступ к оптическому волокну зонда.
•    Топологическое картирование образца из практически любого материала: органического, неорганического, металла, биополимера и т.д.
•    Компактная конструкция с системой виброизоляции.