Поставка, установка, техническая и методическая поддержка
Научно-технические консультации
Инжиниринг

phone+7 (495) 256-24-84
NRS-7600 КР-микроспектрометр высокого разрешения

NRS-7600 КР-микроспектрометр высокого разрешения

Артикул: DD2969
Производитель: JASCO Corporation

Исследовательский лазерный Раман спектрометр NRS-7600 с широчайшим диапазоном длин волн от 5 до 8000 см-1. Гарантирует быстрое получение надежных и высококачественных результатов.

Запрос
Описание
Модели
Спецификация
Компания JASCO обновила линейку флагманских КР-спектрометров NRS-7000 и анонсировала модели NRS-7500 и NRS-7600, которые сочетают в себе новейшие разработки и обладают широким функционалом. Автоматическая система контроля и минимальное количество оптических юстировок гарантируют быстрое получение надежных результатов.

Для расширения функционала возможна установка ряда дополнительных опций:  дополнительные детекторы, расширение до 8 лазеров одновременно с диапазоном длин волн от глубокого УФ до ближнего ИК, дополнительные дифракционные решетки, дополнительные объективы, выносной оптоволоконный зонд и др. Все элементы системы управляются посредством ПК для обеспечения максимальной функциональности при минимальном участии пользователя.


Особенности спектрометров NRS-7000
  • Модели исследовательского класса, обеспечивающие высочайшее качество спектров
  • Исключительная точность установки длины волны благодаря прецизионному прямому приводу
  • Измерение в широчайшем диапазоне длин волн в своем классе
  • Автоматическая юстировка оптических путей источника света и комбинационного расеяния
  • Калибровка по длине волны с использованием встроенной неоновой лампы
  • Уникальная двойная пространственная фильтрация (DSF) для более высокого пространственного разрешения по сравнению с традиционной конфокальной оптикой
  • Патентованная функция пространственно разрешенного изображения (SRI) для одновременного наблюдения образца, пятна лазера и изображения апертуры
  • Удобный доступ к столику образца и микроскопу благодаря 120 градусной моторизованной крышке
  • Защита от лазерного излучения класс 1 с полной блокировкой лазера
  • Полный набор приставок, включая модуль для макро измерений и выносной оптоволоконный зонд
Система высокоскоростного сканирования SPRIntS ("SPRIntS": Software Programmable Raman Integration Speed)

Система SPRIntS - позволяет проводить высокоскоростные измерения за счет сканирования пятном возбуждающего лазера посредством индивидуальных зеркал (VertiScan). Регистрация спектров происходит каждые 5 мс с высокой воспроизводимостью и разрешением менее 50 нм. При этом полностью сохраняются конфокальные возможности прибора. Функция VertiScan также поддерживает построение 3D изображения, используя автоматический столик и  конфокальный микроскоп прибора. VertiScan отличается от подобных функций в других приборах, так как образец освещается строго вертикально для получения неискаженного Раман изображения.

Точное 3D отображение с использованием функции VertiScan

Эта функция позволяет получать изображение образца с использованием конфокальных возможностей Рамановского спектрометра и создает 3D изображение из данных интенсивности Рамановского спектра. Кроме того с использованием данной функции возможен многослойный анализ образца.

Макро измерения и измерения с оптоволоконным зондом

С опциональным модулем для макро измерений стало возможным проводить измерения макро-объектов и получать усредненные значения по образцу, облучая лазером с диаметром пятна 50-100 мкм. 
Также доступен выносной блок для измерений с оптоволоконным зондом, который подходит для анализа In situ и мониторинга протекания реакций. 

Программное обеспечение Spectra Manager II 

Программное обеспечение Spectra Manager II для лазерных Раман спектрометров серий NRS-5000/7000 предлагает осуществление революционно простых операций по измерению и анализу данных. В арсенале имеются такие полезные инструменты, как автокоррекция флуоресценции, коррекция длины волны и интенсивности излучения. Графический интерфейс существенно упрощает проведение микроскопических измерений.

  • Возможности сохранения изображения в каждой точке
  • Система помощи пользователю для получения оптимальных условий измерений
  • Качественная библиотека спектров Sadtler KnowItAll
  • Новая функция мультифокуса позволяет создавать "омнифокальное изображение" из нескольких картинок с различной фокальной глубиной
  • Создание трехмерного видеоизображения благодаря параллельному получению информации вдоль оси Z
Выберите модель, чтобы посмотреть ее особенности и комплектацию:

NRS-7600
Модель
NRS-7500
NRS-7600
Спектрометр
Спектрометр, фокусное расстояние
Схема Черни-Тернера с коррекцией аберраций (f = 500 мм)
Механизм сканирования
Прямой привод высокой точности
Диапазон волновых чисел
(рамановский сдвиг)
50 - 8000 см-1 *1
10 - 8000 см-1 (опция)
5 - 8000 см-1*2
Максимальное разрешение 0.7  см-1 (532 нм возбуждение, 1800 штр/мм, 1024 пиксел CCD)
Опция 0.3 см-1 (532 нм возбуждение, 2400 штр/мм, 2048 пиксел CCD)
Решетка
1800 штр/мм (Дополнительно: 3600, 2400, 1200, 600, 300, 150 штр/мм)
Максимальное число одновременно установленных решеток 4
УФ-опция Заводская опция с возбуждением УФ лазером*3
Режекторный фильтр 532 нм Notch фильтр
 (Дополнительно: Notch и Edge фильтры для других длин волн)
Переключение фильтров Ручное (Опция: автоматический 8-позиционный механизм переключения)
Детектор
Стандартно
CCD детектор с 4-стадийным Пельтье охлаждением (УФ-БИК диапазон, 1024 × 255 пиксел)
Дополнительно
CCD детектор с 4-стадийным Пельтье охлаждением  (высокое разрешение, 2048 × 512 пиксел),
InGaAs детектор с охлаждением жидким азотом (для лазера с длиной волны 1064 нм, 512 или 1024 пиксел)
Переключение детекторов Заводская опция (требуется при использовании 2 детекторов)
Лазер
Лазер
532 нм, 50 мВт (Дополнительно: 244*5, 266*5, 325*5, 355*5, 442, 488, 514.5, 633, 660, 785, 1064 нм)
Максимальное число одновременно установленных лазеров
Внутренние: макс. 2*6, Внешние: макс. 6 (Вид-БИК лазеры: макс. 3, УФ лазеры: макс. 3), Всего: макс. 8 лазеров
Микроскоп
Наблюдение Стандартно: встроенная CMOS камера высокого разрешения (3 МПикс)
 (Дополнительно: бинокуляр, тринокуляр, наблюдение в поляризованном свете, дифференциальная интерференция)
Конфокльная оптика
Стандартно
DSF (Dual Spatial Filter) Стандартно *(недоступно при использовании УФ-расширения)
SRl (Spatial Resolution Image) Стандартно * (недоступно при использовании УФ-расширения)
Объективы
5×, 20×, 100× объективы (Дополнительно: длиннофокусный , УФ, БИК)
Столик для образца Автоматический XYZ столик с джойстиком (перемещение X: 100 мм, Y: 70 мм, шаг 0,04 мкм; по оси Z:  перемещение 30 мм, шаг 0,1 мкм)
Система высокоскоростного сканирования SPRIntS Заводская опция (включает VertiScan, высокоскоростной импорт данных, построение 3D образов, автоматический столик Z, функцию автофокусировки)
Система высокоскоростного сканирования QRI Заводская опция
Автопостроение изображений Заводская опция (включает построение 3D образов, автоматический столик Z, функцию автофокусировки)
Модуль макроизмерений Заводская опция (система SPRIntS и модуль макроизмерений не могут быть установлены одновременно)
Функция автоюстировки Стандартно
SGI (slit guide image) Стандартно
Неоновая лампа
Стандартно (для калибровки волнового числа)
Безопасность
Интегрированная в отделение образца блокировка, защита от лазерного излучения (класс 1)
Программное обеспечение
Стандартные функции
Измерение в точке, измерение в широком спектральном диапазоне, основные функции обработки спектров, поиск по библиотекам/анализ функциональных групп (Sadtler KnowItAll), устранение влияния космических лучей, автокоррекция флуоресценции, коррекция волновых чисел, коррекция чувствительности, JASCO canvas (функция печати), валидация, система помощи
Функции визуализации, входящие в SPRIntS и автопостроение изображения Омнифокальное изображение, отображение спектров в реальном времени, химическая картина и измерение в точке, карта изображений, автофокус ( контраст изображения образца и алгоритмы фокусировки лазера), анализ изображений (включая высоты пиков (отношения), площади пиков (отношения), сдвиг пика,), PCA картографирование, построение 3D изображений (включая 3D Раман спектры и их сечения)
Дополнительные функции
Высокопроизводительный скрининг*7, время-разрешеные измерения, анализ напряжений*8, анализ углерода, определение кристалличности, 2D корреляция
Антивибрационный стол*9
Опция
Размеры и вес 1060 × 890 × 670 мм
около 200 кг
1360 × 890 × 670 мм
около 240 кг
Электропитание
Переменный ток 100 В ± 10 В, 200 В ± 20 В, 200 В*A

Примечания:

*1 При длине возбуждающей волны 532 нм со стандартным Notch фильтром
*2 При длине возбуждающей волны 532 нм с опцией расширения диапазона
*3 Дополнительно требуются УФ-лазер, Edge фильтр для УФ-лазера и УФ-объективы
*5 Спецификации частично отличаются при использовании УФ-лазера
*6 Особенности конструкции лазера могут препятствовать возможности его внутренней установки
*7 Требуется функция автопостроения изображений
*8 Требуется функция автопострения изображений или система высокоскоростного сканирования SPRIntS 
*9 Систему необходимо установить на антивибрационный стол.
Заказать
Чтобы оформить заказ, заполните форму. С вами свяжется менеджер и уточнит детали заказа.