Описание
Спецификация
Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Alpha корейского производителя Sec Co., Ltd предназначен для рутинных исследований наноматериалов, обеспечивает пользователя улучшенным сверхчетким разрешением до 5 нм. Прибор позволяет вмещать образцы с габаритами до 80х40 мм. p>
Преимущества СЭМ
- Улучшенный интерфейс третьего поколения Nano-Eye позволяет получать результаты анализа на 60% быстрее.
- Функция Auto-Gun-Align с улучшенным автофокусом позволяет определять и захватывать необходимые изображения.
- Функция 3D-рендеринга позволяет проверять и анализировать шероховатость образцов.
СЭМ | Alpha |
Детектор | SE/BSE |
Увеличение | До 250 000х |
Разрешение | До 5 нм |
Ускоряющее напряжение | 1 кВ - 30 кВ (6 ступеней) |
Возможности дисплея | Сканирование, фото, HD-видео |
Катод | Предварительно центрированный с вольфрамовой нитью |
Габариты | 300(ширина) - 460(глубина) - 600 (высота) |
Вес | 78 кг |