MSV-5300 Микроспектрофотометр 200-1700 нм с InGaAs-детектором

Артикул: DD1010
Производитель: JASCO Corporation

Спектрофотометр MSV-5300 компании Jasco из серии MSV-5000 представляет собой микроспектрофотометр для проведения анализа образцов в режиме отражение/пропускание в диапазоне длин волн от 200 до 1600 нм

Спектрофотометр MSV-5300 оснащен InGaAs-детектором с Пельтье-охлаждением и способен регистрировать спектры в диапазоне длин волн 200 - 1700 нм с точностью ±0.3 нм.

Ключевые особенности:

Все приборы из серии MSV-5000 оснащены автоматическими поляризаторами Глена-Тейлора.
Установка автоматизированного XYZ-столика позволяет расширить набор анализируемых образцов
Кроссплатформенное программное обеспечение Spectra Manager™ II существенно упрощает и ускоряет процесс получения и обработки данных

В рамках метода молекулярного анализа спектрофотметры MSV-5100 позволяют проводить измерения ширины запрещенной зоны и толщины пленок полупроводников, регистрировать спектры отражения/пропускания, а также оценивать оптические характеристики функциональных кристаллов и проводить анализ цвета микроскопических объектов.

Отличительные особенности:

Широкополосные объективы кассегрена обеспечивают непрерывные измерения величины отражения/пропускания во всем желаемом спектральном диапазоне.
При использовании CMOS камеры высокого разрешения возможно применение контролируемого с помощью компьютера поворотного устройства. Данная операция позволяет осуществлять выбор одного из ×10,×16 или ×32 объективов в комбинации со стандартным зумом. Это, в свою очередь, значительно улучшает качество видеоизображения образца.
Все модели включают в свой состав возможность установки ширины щели для вариации спектрального разрешения. Также предусмотрено наличие круговых и прямоугольных диафрагм для распознавания отдельных участков образца.

Модель	MSV-5300
Оптическая система	Двухлучевая, с одним монохроматором, схема Черни-Тернера
Источник	Дейтериевая лампа 30Вт, галогенная лампа 20Вт
Источник (дополнительно)	Ксеноновая лампа 150Вт (с воздушным охлаждением)
Диапазон длин волн	200 - 1600 нм
Точность по длине волны	± 0.3 нм (656.1 нм) ± 1.5 нм (1312.2 нм)
Ширина полосы пропускания L - режим пониженного светорассеяния	1, 2, 5, 10, L2, L5, L10 нм (Уф/вид.) 2, 4, 10, 20, L4, L10, L20 нм (БИК)
Режимы регистрации	Непрерывное сканирование, пошаговое сканирование (step scan)
Детектор	ФЭУ InGaAs с Пельтье-охлаждением
Наблюдение образца	CMOS камера высокого разрешения (1600 x 1200 пикс.), оптическое увеличение, ATOS, подсветка LED
Наблюдение образца (дополнительно)	Бинокуляр, поляризованное освещение, объективные линзы
Объектив	Объектив кассегрена с x10, x16, x32 увеличением (на выбор) ^*1
Зеркальный конденсор	Собирательное зеркало кассегрена с x10, x16, x32 увеличением (сменное) ^*1 (Функция автоматической коррекции зеркального конденсора)
Диафрагма	Устанавливаемые пользователем значения для двух диафрагм (круглых и прямоугольных) 10, 20, 30, 50, 100, 200 µmf (x16 объектив) 5, 10, 15, 25, 50, 100 µmf (x32 объектив) 16, 32, 48, 80, 160, 320 µmf (x10 объектив)
Столик образца	Столик с ручным управлением (рабочая площадь: X 50 x Y 75 x Z 20 мм) ^*2
Столик образца (дополнительно)	Автоматический столик (рабочая площадь: X 76 x Y 52 x Z 25 мм, шаг 1 мкм) ^*2, джойстик (дополнительно)
Поляризатор	Глена-Тейлора, с автоматической вставкой/установкой угла
Анализатор (дополнительно):	Глена-Тейлора, с автоматической вставкой/установкой угла
Контрольная панель	Переключатель и индикатор кассегрена, индикатор режимов отражение/пропускание, выбор диафрагмы, запуск/остановка измерений, автофокус, автоматическая коррекция зеркального конденсора, оптический зум, автоматическая подсветка образца, подсветка камеры образца ВКЛ/ВЫКЛ, подсветка ATOS (Aperture Through Optical System)
Размеры	700 (Ш) x 740 (Г) x 640 (В) мм
Вес	105 кг
Энергопотребление	150 В*А
Программное обеспечение	JASCO Spectra Manager ™ II
Операционная система	Windows7 Professional
Программы (стандартно)	Микроскопические измерения (многоточечные измерения, линейное и плоскостное картирование), микроспектральный анализ, спектральный анализ (обработка данных: расчет толщины пленки, анализ цвета, поиск пиков, производные), времяразрешенные измерения, валидация, JASCO Canvas (составление отчетов), средства администрирования
Программы (дополнительно) ^*3	Картирование при фиксированной длине волны (линейное и плоскостное), автофокус, мультиизображение

^*1. Объектив кассегрена и зеркало поставляются с одинаковым увеличением.
^*2. Дистанция перемещения зеркала и увеличение объектива зависят от образца.
^*3. Дополнительное программное обеспечение поставляется при установке автоматического столика.