Поставка, установка, техническая и методическая поддержка
Научно-технические консультации
Инжиниринг

phone+7 (495) 256-24-84
NRS-4500 КР-спектрометр

NRS-4500 КР-спектрометр

Артикул: DD2965
Производитель: JASCO Corporation

NRS-4500 - мощные дисперсионные Раман-микроспектрометры. Новейшие разработки в спектрометрах NRS-4500 позволили сделать Раман спектроскопию доступной для пользователей начального уровня, а также расширить область применения, от контроля качества до академического обучения и передовых научных иссследований.

Запрос
Описание
Спецификация


Традиционно считается, что в рамановской спектроскопии подготовка образца значительно проще, чем в ИК-спектроскопии. Более того, в отличие от ИК-Фурье микроскопии Раман-микроскопы предлагают более высокое пространственное разрешение. Как результат, спектрометрия комбинационного рассеяния быстро развивается и становится одним из ведущих методов анализа материалов. При разработке спектрометра NRS-4500 компания учла тот факт, что для работы на рамановском спектрометре оператору необходимо обладать продвинутыми навыками проведения регулярных юстировок, что затрудняет использование данного метода.

Лазерный Раман спектрометр NRS-4500 призван кардинально изменить подход, используемый при решении большинства задач КР-спектроскопии. С данным прибором Раман-спектроскопия становится доступной не только узкому кругу специалистов, но и тем, кто только начал использовать метод комбинационного рассеяния.

Лазерная безопасность

Камера образца полностью отвечает классу 1 по лазерной безопасности и имеет интегрированную систему защиты. 

Жесткая оптическая скамья

Конструкция микроскопа предельно жесткая, что обеспечивает отсутствие каких-либо нежелательных смещений лазера. Данное условие часто не соблюдяется в системах, построенных вокруг обычного оптического микроскопа. Прибор NRS-4500 позволяет наблюдать лазерное пятно для точного позиционирования образца с пространственным разрешением по X/Y 1 мкм (Z=1.5 мкм). Переключение между режимами наблюдения и измерения полностью автоматическое, проводиться при закрытой дверце камеры образца для обеспечения безопасности.

Стандартная конфигурация с лазером 532 или 785 нм

Спектрометр NRS-4500 в стандартной конфигурации включает лазер с длиной волны 532 или 785 нм с полосно-заграждающим или щелевым фильтром. Также предусмотрена возможность установки дополнительных лазеров (до 3-х  одновременно). Выбор и смена лазеров производится автоматически в программном обеспечении, сразу после выбора лазера вся оптическая система автоматически юстируется для оптимизации разрешения и пропускной способности. Может быть установлено до четырех дифракционных решеток с автоматическим переключением, которые позволяют регулировать спектральный диапазон и разрешение в диапазоне от 8000 до 100 см-1  (с опциональным расширением от 8000 - 50 см-1). Прибор обеспечивает воспроизводимость ±0.2 см-1.

Новый 457 нм лазер для снижения влияния флуоресценции и запатентованный алгоритм удаления влияния флуоресценции

Компания JASCO разработала и запатентовала новый способ подавления влияния флуоресценции на Раман-спектр. Как и в других Рамановских системах, в приборе могут использоваться лазеры с длинами волн в диапазоне 785-1064 нм. Однако в модели NRS-4500 предлагается использоваnm лазер 457 нм, обеспечивающий более интенсивный сигнал, высокое пространственное разрешение и существенно более низкую флуоресценцию для огромного количества образцов разных типов. Кроме выбора типа лазера JASCO предлагает и другой путь минимизации влияния флуоресценции. Мощный математический алгоритм, включенный в программное обеспечение Spectra Manager II, позволяет эффективно удалять или минимизировать сигнал флуоресценции со спектра комбинационного рассеяния вне зависимости от длины волны лазера.

Расширенный Функционал измерений
Широкий выбор объективов обеспечивает возможность проведения как микро- так и макроспектральных измерений. Имеются также объективы для работы с образцами на большом расстоянии для нагреваемых столиков и других приставок. Прибор NRS-4500 может поставляться с различными столиками для образца: с ручным управлением, автоматический столик с компьютерным управлением, автоматический XYZ-картирующий столик. Также опционально доступен столик с рабочим расстоянием 80 мм для больших образцов и возможности нагревания или охлаждения образца.

Мощная система ‘UserAssist’ для начинающих пользователей

Программный модуль ‘UserAssist’ помогает пользователю настроить NRS-4500 для измерения спектров образца; простая последовательность действий проведет пользователя через настройку и оптимизацию параметров измерения с необходимыми советами и подсказками. Программа предупредит, например, если пользователь установил слишком высокую интенсивность лазера. Когда все параметры установлены, NRS-4500 автоматически подключит нужный лазер,  необходимые для измерения фильтры и решетки, сфокусируется на образце и проведет измерение спектра.

 

  • Выбор области образца, который необходимо измерить
  • Выбор лазера и фильтра
  • Установка интенсивности лазера
  • Выбер дифракционноц решетки
  • Установка длины волны

 

Функция "Простой поиск" (Simple Search)

Новая функция программного обеспечения ‘Simple Search’ используется вместе с автоматизированным XYZ столиком. Встроенный алгоритм, разработанный JASCO, анализирует изображение образца и автоматически выбирает позицию для микроскопа исходя из размера, контраста и/или цвета исследуемого материала. Пользователю остается только нажать кнопку для получения спектра интересующих его частей образца.

Коррекция флуоресценции

Прибор NRS-4500 обладает двумя физическими методами удаления флуоресценции:

1) Определенный размер конфокальной апертуры для ограничения матрицы измерений, проводящихся для данного образца

2) Возможность выбора такой длины волны, при которой флуоресценция образца минимальна.

Также возможно воспользоваться запатентованным компанией Jasco алгоритмом для коррекции флуоресценции. Данный способ высокоэффективен при удалении флуоресценции после измерения образца.

Идентификация веществ и база данных функциональных групп

Для обеспечения более быстрой обработки спектров программное обеспечение включает в себя Sadtler KnowItAll - модуль ПО, включающий базу данных Рамановских спектров возможных функциональных групп и другую важную информацию о химических соединениях, основанную на вычислении высоты и площади пиков. Также пользвоатель сможет добавить свои соединения в базу данных после вычисления площади и высоты пика.  База данных включает в себя информацию о вычислениях по спектру и "метку", описывающую относящийся к пику колебательный переход. Карты химического состава могут быть легко построены на основании информации, полученной при сканировании образца непосредственно в программе обработки спектров.

Модель
NRS-4500
Спектрометр
Спектрометр, фокусное расстояние схема Черни-Тернера с коррекцией аберраций,  f=200 мм 
Сканирование по длине волны
Высокоточный шаговый двигатель
Воспроизводимость по волновому числу: ±0.2 см-1
Диапазон волновых чисел
от 8000 до 100 см-1 
от 8000 до 50 см-1  (опция)
Максимальное разрешение
2 см-1/пиксел (диапазон от 100 до 3900 см-1)
0.7 см-1/пиксел ( от 100 до 1350 см-1, 532 нм, решетка 2400 штр/мм, 1650 пиксел CCD детектор)
Решетка
Стандартно: 900 штр/мм
Дополнительно: 2400, 1800, 1200, 600, 300, 150 штр/мм
До 4 решеток может быть установлено одновременно
Оптическое юстирование
Автоматическое (лазер)
Функция автоматической юстировки по рамановскому сигналу
Автоматическое переключение фокусирующих линз для оптимального освещения спектрографа
Детектор
Детектор
CCD-детектор с 4-х стадийным охлаждением Пельтье (макс. -60°С) 1650x200 пиксел, 16х16 мкм, от видимой до БИК области
Опция
Высокочувствительный детектор для видимой области, высокочувствительный для БИК области, высокого разрешения, InGaAs и другие
Лазер
Лазер
Стандартно: 532 нм, 20 мВт
Опционально: 405, 442, 457, 488, 514.5, 532, 633, 785, 1064 нм
(при использовании 1064 нм лазера необходим InGaAs детектор)
Число лазеров
До 3-х лазеров одновременно (3 внутренних или 2 внутренних и 1 внешний)
Микроскоп
Обзор образца
Встроенная CMOS камера высокого разрешения (3 млн. пиксел)
Конфокальная оптическая система
Стандартно
Пространственное разрешение
XY=1 мкм, Z=1.5 мкм
Объективы
5х, 20х и 100х
Стандартная карусель на 6 объективов
Карусель с автоматическим переключеним (опция)
объектив для макроизмерений, объектив для УФ области, объектив для БИК области (опция)
Столик образца
С ручной регулировкой
Автоматический столик с функцией автофокусировки (опция)
Картирование
Опция. Автоматический столик с автофокусировкой, шаг 0.1 мкм, 3-D картирование
Лазерная безопасность
Класс 1. Игтегрированная в отделение образца и программное обеспечение блокировка. Полная защита лазерного пути.
Макро измерение
Опция. Приставка карусельного типа.
Оптоволоконный зонд
Опция. Ручное переключение.
Другие дополнительные возможности
Дихроичные зеркала. Наблюдение в поляризованном свете. Дифференциальный контраст. Наблюдение в проходящем свете.
Программное обеспечение
Стандартный пакет программ
Микроспектральные измерения, валидация, анализ спектров, анализ карт, коррекция волновых чисел, коррекция чувствительности, коррекция флуоресценции, JASCO Canvas (формирование и печать отчетов).
Картирование (опция)
Функция поиска образца, многократная фокусировка, фокусированный обзор, наблюдение трехмерных структур, расчет параметров пиков, коррекция коэффициента преломления.
Коррекции
Стандартная, автоматическая коррекция флуоресценции, коррекция чувствительности, коррекция волнового числа (набор включает неоновую лампу и стандартный образец)
Дополнительные программы
Время-разрешенные измерения, температурные измерения, картирование, анализ напряжений, анализ углерода 
Другое
Антивибрационный стол
Дополнительно (требуется источник сжатого воздуха или азота, давление 0.25 - 0.3 МПа)
Размеры и вес
Спектрометр: 550 мм (Ш) х 610 мм (Г) х 800 мм (В)    Вес: ~80 кг.
Блок питания: 220 мм (Ш) х 320 мм (Г) х 70 мм (В)     Вес: ~3 кг.
AC 100 В ± 10 В, AC 200 В ± 20 В, 200 В*А
Заказать
Чтобы оформить заказ, заполните форму. С вами свяжется менеджер и уточнит детали заказа.