NFS-220/320 Наноспектрометр с дополнительной оптикой

Компания Jasco в своих сканирующих оптических наноспектрометрах ближнего поля предоставила возможность преодолеть дифракционный предел и изучать нанообъекты.

Помимо получения топологических карт поверхности образца с пространственным разрешением, не достижимым обычным микроскопам, точный контроль расстояния между наконечником зонда и поверхностью образца обеспечивает оптимальную подсветку для оптических приложений в области нанотехнологий.

В сканирующем оптическом микроскопе ближнего поля источник излучения с пространственным разрешением меньшим, чем длина волны, используется в качестве сканирующего зонда. Зонд сканирует поверхность образца на высоте в несколько нанометров, пьезоэлектрический манипулятор поддерживает зазор между зондом и поверхностью с помощью системы обратной связи между датчиком и блоком электроники. На выходе конуса зонда имеется небольшое отверстие, оптоволоконный световод покрыт золотом. Облучая образец с помощью источника "ближнего поля", создаваемого диафрагмой зонда, можно получать оптические изображения с пространственным разрешением от 50 нм, преодолевая "дифракционный предел".

Зонд ближнего поля.

Программный модуль "Image Manager":
Модуль управления изображением позволяет получить трехмерную картину высокого разрешения, включая и топологию поверхности образца.
При отображении интенсивности и площали сигналов пиков/распределения, а также значения полуширины, программный модуль позволяет получить удивительно реалистичные 3D изображения.

Карта распределения интенсивностей нанотрубок.

Кроме того, становится возможным эффективно извлекать необходимую информацию с помощью различных функций обработки изображений и инструментов анализа больших объемов экспериментальных данных.

Серия NFS-220/320 включает в себя 2 модели:

NFS-220 - сканирующий оптический наноспектрометр ближнего поля для проведения экспериментов при комнатной температуре.

NFS-320 - сканирующий оптический наноспектрометр ближнего поля с криостатом для проведения низкотемпературных экспериментов. Поток газообразного гелия обеспечивает охлаждение образца до 10K и ниже.

Особенности:
• Контролируемая подсветка образцов с использованием зонда ближнего поля позволяет достичь пространственного разрешения в несколько сотен нм или меньше.
• Топологическое картирование образца из практически любого материала: органического, неорганического, металла, биополимера и т.д.
• Параллельный вывод луча света, сфокусированного зондом ближнего поля.
• Встроенный лазерный источник излучения.
• Через окно для внешнего лазера возможен ввод дополнительного лазера возбуждения.
• Системы NFS-220T и -320T поставляются в настольном исполнении.
• Системы NFS-220V и -320V монтируются на столе с виброизоляцией.