NFS-220FT/320FT Наноспектрометр с ИК-Фурье спектрометром
Производитель: JASCO Corporation
Наноспектрометры NFS-220FT/320FT сочетают в себе точность ближнепольных микроскопов системы NFS и ИК-Фурье спектрометр для ближней ИК области спектра. Размер области света, выходящего из зонда, зависит только от размера диафрагмы, а не от длины волны.
Запросить стоимостьКомпания Jasco в своих
сканирующих оптических наноспектрометрах ближнего поля предоставила
возможность преодолеть дифракционный предел и изучать нанообъекты.
Благодаря появлению серии NFS-220FT/320FT стало возможным
регистрировать излучение с длинами волн, превышающими 1 мкм. Это
достигается применением высокочувствительного ИК-Фурье спектрометра с
детектором InGaAs, что было невозможным для кремниевого детектора.
В сканирующем оптическом микроскопе ближнего поля источник излучения с пространственным разрешением меньшим, чем длина волны, используется в качестве сканирующего зонда. Зонд сканирует поверхность образца на высоте в несколько нанометров, пьезоэлектрический манипулятор поддерживает зазор между зондом и поверхностью с помощью системы обратной связи между датчиком и блоком электроники. На выходе конуса зонда имеется небольшое отверстие, оптоволоконный световод покрыт золотом. Облучая образец с помощью источника "ближнего поля", создаваемого диафрагмой зонда, можно получать оптические изображения с пространственным разрешением от 50 нм, преодолевая "дифракционный предел".
Зонд ближнего поля.
Программный модуль "Image Manager":
Модуль управления изображением позволяет получить трехмерную
картину высокого разрешения, включая и топологию поверхности образца.
При отображении интенсивности и площали сигналов пиков/распределения, а
также значения полуширины, программный модуль позволяет получить
удивительно реалистичные 3D изображения.
Карта распределения интенсивностей нанотрубок.
Кроме того, становится возможным эффективно извлекать необходимую
информацию с помощью различных функций обработки изображений и
инструментов анализа больших объемов экспериментальных данных.
Серия NFS-220FT/320FT включает в себя 2
модели:
NFS-220FT - сканирующий оптический наноспектрометр ближнего поля для проведения экспериментов при комнатной температуре.
NFS-320FT - сканирующий оптический наноспектрометр ближнего поля с криостатом для проведения низкотемпературных экспериментов. Поток газообразного гелия обеспечивает охлаждение образца до 10K и ниже.
Особенности:
• Охватывает ближний ИК диапазон, который широко
используется в области оптоволоконной связи.
• Топологическое картирование образца из практически
любого материала: органического, неорганического, металла, биополимера и
т.д.
• Высокочувствительный ИК-Фурье спектрометр в сочетании
с зондом ближнего поля позволяет регистрировать спектры люминесценции в
ближнем ИК диапазоне.
• Встроенный лазерный источник излучения.
• Через окно для внешнего лазера возможен ввод
дополнительного лазера возбуждения.
Режимы измерения |
Излучение-накопление, накопление, возбуждение от внешнего источника, |
Встроенный лазер |
Зеленый лазер 532 нм |
Внешний лазер |
Возможно два источника возбуждения (включая встроенный) |
Переключение оптического пути | Автоматическое переключение управляющей программой |
ИК-Фурье спектрометр | Диапазон длин волн: 850-1500 нм Спектральное разрешение: 1 нм (если размер образца 1 мкм) Детектор: InGaAs 90° интерферометр Майкельсона Светоделители: Si на CaF2 |
Предметный столик |
20 х 20 мкм, высота 8 мкм |
Управление |
ПК с ОС Windows |
Связь с ПК |
16-разрядный АЦП |
Получение изображений |
Система видеозахвата |
Программное обеспечение |
Модуль обратной связи сигнала и картирования ближнего поля |
Охлаждение исследуемого образца |
Криостат (NFS-320FT) |
Доступ к зонду |
2 окна (спереди и справа) |
Размер системы |
1600 (Ш) х 750 (Г)х 1500 (В) мм |
Вес |
Основной блок: 80 кг |
Электропитание |
220 В переменного тока ± 10%, 250 ВА (основной блок), 130 ВА (ИК-Фурье спектрометр), 100 ВА (ПК) |
Другие требования |
Азот или воздух для виброизоляционного стола, от 0,3 до 0,8 МПа |