NRS-5600 КР-микроспектрометр высокого разрешения
Производитель: JASCO Corporation
Исследовательский лазерный Раман спектрометр NRS-5600 имеет расширенный диапазон волновых чисел и широкий функционал. Гарантирует быстрое получение высококачественных данных с автоматической системой контроля и минимальным количеством оптических юстировок.
Компания JASCO обновила линейку исследовательских КР-спектрометров NRS-5000 и анонсировала модели NRS-5500 и NRS-5600, которые сочетают в себе последние разработки, широкий функционал и минимальные пользовательские настройки. Автоматическая система контроля и минимальное количество оптических юстировок гарантируют быстрое получение надежных результатов.
Для расширения функционала возможна установка ряда дополнительных опций: дополнительные детекторы, расширение до 8 лазеров одновременно с диапазоном длин волн от глубокого УФ до ближнего ИК, дополнительные дифракционные решетки, дополнительные объективы, выносной оптоволоконный зонд и др. Все элементы системы управляются посредством ПК для обеспечения максимальной функциональности при минимальном участии пользователя.
Особенности спектрометров NRS-5000
- Модели исследовательского класса, обеспечивающие высочайшее качество спектров
- Исключительная точность установки длины волны благодаря прецизионному прямому приводу
- Измерение в широком диапазоне длин волн
- Автоматическая юстировка оптических путей источника света и комбинационного расеяния
- Калибровка по длине волны с использованием встроенной неоновой лампы
- Уникальная двойная пространственная фильтрация (DSF) для более высокого пространственного разрешения по сравнению с традиционной конфокальной оптикой
- Патентованная функция пространственно разрешенного изображения (SRI) для одновременного наблюдения образца, пятна лазера и изображения апертуры
- Удобный доступ к столику образца и микроскопу благодаря 120 градусной моторизованной крышке
- Защита от лазерного излучения класс 1 с полной блокировкой лазера
- Полный набор приставок, включая модуль для макро измерений и выносной оптоволоконный зонд
Система высокоскоростного сканирования SPRIntS ("SPRIntS": Software Programmable Raman Integration Speed)
Система SPRIntS - позволяет проводить высокоскоростные измерения за счет сканирования пятном возбуждающего лазера посредством индивидуальных зеркал (VertiScan). Регистрация спектров происходит каждые 5 мс с высокой воспроизводимостью и разрешением менее 50 нм. При этом полностью сохраняются конфокальные возможности прибора. Функция VertiScan также поддерживает построение 3D изображения, используя автоматический столик и конфокальный микроскоп прибора. VertiScan отличается от подобных функций в других приборах, так как образец освещается строго вертикально для получения неискаженного Раман изображения.
Точное 3D отображение с использованием функции VertiScan
Эта функция позволяет получать изображение образца с использованием конфокальных возможностей Рамановского спектрометра и создает 3D изображение из данных интенсивности Рамановского спектра. Кроме того с использованием данной функции возможен многослойный анализ образца.
Макро измерения и измерения с оптоволоконным зондом
С опциональным модулем для макро измерений стало возможным проводить измерения макро-объектов и получать усредненные значения по образцу, облучая лазером с диаметром пятна 50-100 мкм.
Также доступен выносной блок для измерений с оптоволоконным зондом, который подходит для анализа In situ и мониторинга протекания реакций.
Программное обеспечение Spectra Manager II
Программное обеспечение Spectra Manager II для лазерных Раман спектрометров серий NRS-5000/7000 предлагает осуществление революционно простых операций по измерению и анализу данных. В арсенале имеются такие полезные инструменты, как автокоррекция флуоресценции, коррекция длины волны и интенсивности излучения. Графический интерфейс существенно упрощает проведение микроскопических измерений.
- Возможности сохранения изображения в каждой точке
- Система помощи пользователю для получения оптимальных условий измерений
- Качественная библиотека спектров Sadtler KnowItAll
- Новая функция мультифокуса позволяет создавать "омнифокальное изображение" из нескольких картинок с различной фокальной глубиной
- Создание трехмерного видеоизображения благодаря параллельному получению информации вдоль оси Z
| Модель | NRS-5500 | NRS-5600 |
| Спектрометр | ||
| Спектрометр, фокусное расстояние | Схема Черни-Тернера с коррекцией аберраций (f = 300 мм) | |
| Механизм сканирования | Прямой привод высокой точности | |
| Диапазон волновых чисел (рамановский сдвиг) | 50 - 8000 см-1 *1 10 - 8000 см-1 (опция) | 10 ~ 8000 см-1*2 |
| Максимальное разрешение | 1 см-1 (532 нм возбуждение, 1800 штр/мм, 1024 пиксел CCD) Опция 0.4 см-1 (532 нм возбуждение, 2400 штр/мм, 2048 пиксел CCD) | |
| Решетка | 1800 штр/мм (Дополнительно: 3600, 2400, 1200, 600, 300, 150 штр/мм) | |
| Максимальное число одновременно установленных решеток | 4 | |
| УФ-расширение | Заводское расширение с возбуждением УФ лазером (включая УФ оптические элементы и камеру наблюдения в УФ диапазоне)*3 | |
| Режекторный фильтр | 532 нм Notch фильтр (Дополнительно: Notch и Edge фильтры для других длин волн) | |
| Переключение фильтров | Ручное (Опция: автоматический 8-позиционный механизм переключения) | |
| Детектор | ||
| Стандартно | CCD детектор с 4-стадийным Пельтье охлаждением (УФ-БИК диапазон, 1024 x 255 пиксел) | |
| Дополнительно | CCD детектор с 4-стадийным Пельтье охлаждением (высокое разрешение, 2048 x 512 пиксел), InGaAs детектор с охлаждением жидким азотом (для лазера с длиной волны 1064 нм, 512 или 1024 пиксел) | |
| Переключение детекторов | Заводская опция (требуется при использовании 2 детекторов) | |
| Лазер | ||
| Лазер | 532 нм, 50 мВт (Дополнительно: 244*5, 266*5, 325*5, 355*5, 442, 488, 514.5, 633, 660, 785, 1064 нм) | |
| Максимальное число одновременно установленных лазеров | Внутренние: макс. 2*6, Внешние: макс. 6 (Вид-БИК лазеры: макс. 3, УФ лазеры: макс. 3), Всего: макс. 8 лазеров | |
| Микроскоп | ||
| Наблюдение | Стандартно: встроенная CMOS камера высокого разрешения (3 МПикс) (Дополнительно: бинокуляр, тринокуляр, наблюдение в поляризованном свете, дифференциальная интерференция) | |
| Конфокльная оптика | Стандартно | |
| DSF (Dual Spatial Filter) | Стандартно *(недоступно при использовании УФ-расширения) | |
| SRl (Spatial Resolution Image) | Стандартно * (недоступно при использовании УФ-расширения) | |
| Объективы | x5, x20, x100 объективы (Дополнительно: длиннофокусный , УФ, БИК) | |
| Столик для образца | Автоматический XYZ столик с джойстиком (перемещение X: 100 мм, Y: 70 мм, шаг 0,04 мкм; по оси Z: перемещение 30 мм, шаг 0,1 мкм) | |
| Система высокоскоростного сканирования SPRIntS | Заводская опция (включает VertiScan, высокоскоростной импорт данных, построение 3D образов, автоматический столик Z, функцию автофокусировки) | |
| Система высокоскоростного сканирования QRI | Заводская опция | |
| Автопостроение изображений | Заводская опция (включает построение 3D образов, автоматический столик Z, функцию автофокусировки) | |
| Модуль макроизмерений | Заводская опция (система SPRIntS и модуль макроизмерений не могут быть установлены одновременно) | |
| Функция автоюстировки | Стандартно | |
| SGI (slit guide image) | Стандартно | |
| Неоновая лампа | Стандартно (для калибровки волнового числа) | |
| Безопасность | Интегрированная в отделение образца блокировка, защита от лазерного излучения (класс 1) | |
| Программное обеспечение | ||
| Стандартные функции | Измерение в точке, измерение в широком спектральном диапазоне, основные функции обработки спектров, поиск по библиотекам/анализ функциональных групп (Sadtler KnowItAll), устранение влияния космических лучей, автокоррекция флуоресценции, коррекция волновых чисел, коррекция чувствительности, JASCO canvas (функция печати), валидация, система помощи | |
| Функции визуализации, входящие в SPRIntS и автопостроение изображения | Омнифокальное изображение, отображение спектров в реальном времени, химическая картина и измерение в точке, карта изображений, автофокус ( контраст изображения образца и алгоритмы фокусировки лазера), анализ изображений (включая высоты пиков (отношения), площади пиков (отношения), сдвиг пика,), PCA картографирование, построение 3D изображений (включая 3D Раман спектры и их сечения) | |
| Дополнительные функции | Высокопроизводительный скрининг*7, время-разрешеные измерения, анализ напряжений*8, анализ углерода, определение кристалличности, 2D корреляция | |
| Антивибрационный стол*9 | Опция | |
| Размеры и вес | 880 x 890 x 670 мм около 200 кг | 1360 x 890 x 670 мм около 240 кг |
| Электропитание | Переменный ток 100 В ± 10 В, 200 В ± 20 В, 200 В*A | |
Примечания:
*1 При длине возбуждающей волны 532 нм со стандартным Notch фильтром
*2 При длине возбуждающей волны 532 нм с опцией расширения диапазона
*3 Дополнительно требуются УФ-лазер, Edge фильтр для УФ-лазера и УФ-объективы
*5 Спецификации частично отличаются при использовании УФ-лазера
*6 Особенности конструкции лазера могут препятствовать возможности его внутренней установки
*7 Требуется функция автопостроения изображений
*8 Требуется функция автопострения изображений или система высокоскоростного сканирования SPRIntS
*9 Систему необходимо установить на антивибрационный стол.