Лабораторный энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр с трубкой мощностью 400 Вт, напряжением 60 кВ и вторичными мишенями для анализа твердых образцов, порошков, прессованных таблеток, жидкостей и материалов воздушных фильтров. Отсек для образцов позволяет одновременно размещать пробы различных форм и размеров.
Восемь вторичных мишеней, подбираемых под конкретные задачи, обеспечивают максимальную чувствительность, скорость и точность количественного анализа даже в сложных матрицах, таких, как сплавы, полимеры и геологические пробы. Подбор мишеней позволяет достичь пределов обнаружения на уровне долей мг/кг для широкого диапазона элементов. Мощная трубка и улучшенный детектор значительно повышают производительность при анализе "сложных" элементов, таких как легкие 2p-элементы и лантаноиды.
Конструкция 10-местного автосамплера предполагает работу в автоматическом режиме и минимизацию участия оператора.
Области применения
- Добыча и производство минерального сырья: цемент, известняк, песок, глина, бокситы, фосфориты, гипс.
- Цветная металлургия: исследования и контроль качества при производстве цветных металлов, легких сплавов, прецизионных сплавов, жаропрочных сплавов и др.
- Черная металлургия: исследования и контроль качества различных технологических процессов металлургической промышленности при производстве нержавеющей стали, чугуна, сортировке металлов.
- Драгоценные металлы: производство и контроль качества драгоценных металлов и их сплавов, анализ сырья, шламов и соединений драгоценных металлов.
- Полимеры: анализ сырья для производства пластмасс, PVC, добавки, следовые элементы.
- Защита окружающей среды: анализ атмосферных фильтров, сточных вод, соответствие директиве RoHS, загрязнение атмосферы, почва и грунт.
- Переработка нефти: Контроль содержания серы в топливе, нефтепродукты, присадки, смазочные масла, мониторинг износа металлических деталей.
- Криминалистика: анализ улик, совпадение материалов, взрывчатые вещества.
- Продукты питания, парфюмерия и лекарственные препараты: проверка сырья, добавок, качества упаковки и др.
- Научные исследования: исследования в области материаловедения, химической промышленности и др.
Характеристики | Nova | Vega |
Возможности анализа | ||
Диапазон определения | Na(11) - U (92) / C(6) – U(92) | Na(11) - U (92) / C(6) - U(92) |
Определяемые концентрации | доли мг/кг - 100% | доли мг/кг - 100% |
Генерация рентгеновского излучения | ||
Источник излучения | 60 кВ, 300 Вт | 60 кВ, 400 Вт |
Материал анода | Rh (опционально Ag/Mo/W/Cr/Pd) | |
Способ возбуждения | Прямое возбуждение с фильтрами и через вторичные мишени | |
Детектирование рентгеновского излучения | ||
Детектор | SDD или SDD LE | |
Разрешение (FWHM), при 5.9 кэВ | 125эВ ± 5эВ | |
Окно детектора | Be / Тонкое окно для анализа лёгких элементов | |
Основные особенности системы | ||
Автосэмплер | 10-позиционный автосэмплер | |
Рабочая среда | Воздух/ Вакуум/ Гелий | |
Фильтры | 8 фильтров | |
| 8 вторичных мишеней с возможностью индивидуальной комплектации | |
Источник электропитания | 110-230В 50/60Гц | |
Обработка сигнала | Высокоскоростной многоканальный цифровой анализатор | |
Габариты системы (L x W x H, cм) | Без упаковки: 85 x 85 x 105, в упаковке: 145 x 95 x 135 | |
Вес | 170кг (net), 220кг (gross) | |
Размер камеры | 28x28 см, H=6см | |
Компьютер | Встроенный ПК | |
Программное обеспечение | ||
Системное программное обеспечение | Програмное обеспечение Analytix™ , под управлением ОС Microsoft Windows™ + базовый бесстандартный режим фундаментальных параметров | |
Обработка спектров | Автоматическое удаление пика утечки и фона. Автоматическая деконволюция пиков. Графической обработки статистических данных | |
Алгоритмы количественного анализа | Мультиэлементная регрессия с межэлементной коррекцией (6 моделей) Различные методы вычисления площади пика : gross, net, fit и digital filter | |
Формирование отчета | Настраиваемый пользователем вывод данных на принтер | |
Дополнительные опции | Автосэмплер на 20 позиций. Устройство для вращения образцов. Программное расширение для анализа методом фундаментальных параметров. |