Компания "ЛАБТЕСТ" приняла участие в XX Международном совещании по кристаллохимии, рентгенографии и спектроскопии минералов, где представила доклад на тему "Использование вторичных мишеней в энергодисперсионных рентгенофлуоресцентных спектрометрах производства Xenemetrix". Совещание проходило с 17 по 21 июня на базе Санкт-Петербургского государственного университета.

Программа конференции:

Секция 1 Общие вопросы неорганической кристаллохимии и структурной минералогии.
Секция 2 Рентгеновская кристаллография и рентгеноструктурный анализ.
Секция 3 Физика и спектроскопия минералов.
Секция 4 Дифракционные и спектроскопические методы в технологической минералогии.
Секция 5 Генетическая кристаллохимия.
Секция 6 Экспериментальная минералогия и кристаллохимия высоких температур и давлений.
Секция 7 Теоретико-кристаллохимические подходы в современной минералогии.
Секция 8 Органическая минералогия и биоминералогия.

XX Международное совещание по кристаллохимии